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113 年國家發明創作獎 成大智慧製造研究中心執行長鄭芳田率團隊榮獲銀牌
國立成功大學智慧製造研究中心執行長鄭芳田和團隊成員謝昱銘、王丹汝、彭琍瑄及林晉逸，以「使用卷積神經網路的虛擬量測方法及其電腦程式產品」榮獲 113 年經濟部智慧財產局「國家發明創作獎」發明獎銀牌，這是鄭芳田執行長率團隊四度獲得「國家發明創作獎」榮譽，預定 114 年 4 月頒獎表揚。
所謂虛擬量測是指在產品尚未或無法進行實際量測情況下，利用生產機台參數，推估其所生產產品品質，進行線上且即時預測，以便能達到所有生產產品，能被全檢的效果，也可同時對於機台效能進行監控，亦可即時發現異常，避免發生重大損失。
鄭芳田執行長曾在民國 100 年以「雙階段虛擬量測方法（Dual-Phase Virtual Metrology Method）」獲得發明獎銀牌。民國 101 年 以「全自動化型虛擬量測的伺服器與系統及方法（Automatic Virtual Metrology, AVM）」拿下發明獎金牌，民國 107 年以「工具機之加工品質的預測方法（Method For Predicting Machining Quality Of Machine Tool）」，獲得發明獎銀牌，此次以「使用卷積神經網路的虛擬量測方法及其電腦程式產品（Convolutional Neural Network, CNN for Automatic Virtual Metrology, AVM）」再次榮獲發明獎銀牌。
鄭芳田執行長指出，本發明之目的是在提供一種使用卷積神經網路（Convolutional Neural Network, CNN）的虛擬量測方法及其電腦程式產品，藉以有效地使用卷積神經網路來進行虛擬量測，以提高習知虛擬量測的精確度。
鄭芳田執行長在「使用卷積神經網路的虛擬量測方法及其電腦程式產品」領域關鍵技術上，已取得中華民國、美國等專利，可應用在半導體產業外，還可應用在化工、造紙、系統整合與設備等產業。本專利技術提升原全自動虛擬量測（AVM）系統整體預測精度，使得逐件先進製程控制變得可行，並搭配工業 4.0 的發展平台即可達到所有產品接近零缺陷（Zero Defects），亦即所謂的工業 4.1 之境界，從而提高我國高科技產業產品品質及全球競爭力。
「國家發明創作獎」由經濟部智慧財產局主辦，目的在鼓勵從事研究創新，特針對發明、新型與設計之創作者，設置國家發明創作獎以帶動研究創新風氣，促進產業科技發展。獎項分「發明獎」及「創作獎」。「發明獎」規定，發明人須於辦理評選年度之前 6 年度內取得我國之發明專利。「創新獎」要求新型創作人或設計人，須在辦理評選年度之前 6 年度內取得我國之新型或設計專利，且新型專利須具備新型技術報告。
維護單位: 新聞中心
更新日期: 2025-02-03
鄭芳田教授及團隊四度獲「國家發明創作獎」榮譽
